Registros da qualificação de mestrado da Gepiediano Jonathan Batista dos Santos
No dia 29 de agosto de 2025, às 15h, realizou-se na Sala de Seminários do Departamento de Computação da UFS, em São Cristóvão, a sessão de qualificação de mestrado do discente Jonathan Batista dos Santos, integrante do GEPIED. O trabalho, intitulado “Experiência do Usuário e Tecnologias Digitais: O caso do Colégio de Aplicação da Universidade Federal de Sergipe”, foi apresentado sob a orientação do Dr. Henrique Nou Schneider.
A banca examinadora foi composta por Dr. Sergio Crespo Coelho da Silva Pinto (UFF), Dra. Anne Alilma Silva Souza Ferrete (UFS) e Dra. Geovânia Nunes de Carvalho (UFS). Ao final da apresentação e arguição, o candidato foi aprovado com recomendações para o prosseguimento de sua pesquisa.
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